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國產白光干涉儀

簡要描述☁│☁:基於白光干涉原理↟╃,中圖儀器自主研發生產的SuperViwe W1國產白光干涉儀採用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大範圍兩大優點的擴充套件型相移演算法EPSI↟╃,單一模式即可適用於從平面到弧面↟│₪✘◕、超光滑到粗糙等各種表面型別↟╃,讓3D測量變得簡單✘│。廣泛應用於3C電子↟│₪✘◕、微奈米材料↟│₪✘◕、微機電↟│₪✘◕、光學加工↟│₪✘◕、半導體↟│₪✘◕、超精密加工等行業中精密元器件的表面粗糙度↟│₪✘◕、幾何輪廓等引數的測量和分析✘│。

  • 更新時間☁│☁:2022-04-12
  • 產品型號☁│☁:
  • 廠商性質☁│☁:生產廠家
  • 訪  問  量☁│☁:2512

詳細介紹

品牌自營品牌產地類別國產
外形尺寸(900x700x604)mm重量150kg
應用領域環保,化工,能源,航天,汽車光源白光/綠光LED
影像系統1024x1024標準視場(0.98x0.98)mm
XY移動平臺尺寸(300x300)mmZ向行程100mm電動
Z向掃描範圍10mm可測樣品反射率0.05%~100%
臺階測量準確度0.7%臺階測量重複性0.1%1σ

白光干涉儀是3D檢測領域中高精度的精密測量儀器之一↟╃,特別是在一些奈米級和亞奈米級的超精密加工領域✘│。市場中的國外白光干涉儀品牌↟╃,因為價格昂貴↟╃,讓很多企業望而卻步↟╃,品質和售後也是參差不齊✘│。做的好的國產白光干涉儀不多↟╃,中圖儀器自主研發生產的SuperView W1白光干涉儀算一個✘│。


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SuperView W1白光干涉儀跟國外的zygo白光干涉儀對標↟╃,品質和售後也有保障↟╃,更大的優勢是軟體方面✘│。基於白光干涉原理↟╃,中圖儀器自主研發生產的SuperViwe W1白光干涉儀採用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大範圍兩大優點的擴充套件型相移演算法EPSI↟╃,單一模式即可適用於從平面到弧面↟│₪✘◕、超光滑到粗糙等各種表面型別↟╃,其*的3D重建演算法↟╃,自動濾除樣品表面噪點↟╃,在硬體系統的配合測量精度可達亞奈米級別↟╃,讓3D測量變得簡單✘│。


產品引數

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標準配置

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可選配置

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產品特點

1↟│₪✘◕、引數測量☁│☁:粗糙度↟│₪✘◕、圍觀輪廓尺寸↟│₪✘◕、角度↟│₪✘◕、面積↟│₪✘◕、體積↟│₪✘◕、一網打盡;

2↟│₪✘◕、環境噪聲檢測☁│☁:實時監測↟╃,奈米波動↟╃,也無可藏匿;

3↟│₪✘◕、雙重防撞保護☁│☁:軟體ZSTOP和Z向硬體感測器↟╃,讓“以卵擊石"也能安然無恙;

4↟│₪✘◕、自動拼接☁│☁:3軸光柵閉環反饋↟╃,讓3D拼接“天衣無縫";

5↟│₪✘◕、雙重振動隔離☁│☁:氣浮隔振↟╃,吸音隔振↟╃,任你“地動山搖↟╃,我自巋然不動"✘│。


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效能特徵

1↟│₪✘◕、高精度↟│₪✘◕、高重複性

3D重建演算法↟│₪✘◕、精密Z向掃描模組和光學干涉技術組成的測量系統↟╃,以及能有效隔離2Hz以上頻率的隔振系統↟╃,保證了測量精度和測量重複性✘│。

2↟│₪✘◕、一體化操作的測量分析軟體

測量資料自動統計↟╃,視覺化視窗↟╃,結合自定義分析模板的自動化測量功能↟╃,實現了快速批次測量的功能↟╃,自動完成多區域的測量與分析過程✘│。

3↟│₪✘◕、精密操縱手柄

整合X↟│₪✘◕、Y↟│₪✘◕、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄↟╃,可快速完成Z向聚焦↟│₪✘◕、載物臺平移↟│₪✘◕、找條紋等測量前工作✘│。

4↟│₪✘◕、雙重防撞保護措施

(1)軟體防撞保護ZSTOP

即在Z軸上設定停止位↟╃,設定位置到樣品表面的距離小於鏡頭的工作距離↟╃,當鏡頭運動到該位置時↟╃,就立刻停止不再向下運動↟╃,起到保護樣品和鏡頭的作用✘│。

(2)Z軸硬體防撞感測器

在鏡頭的上方安裝有機械防撞感測器↟╃,當鏡頭向下位移與樣品表面直接接觸時↟╃,觸發感應器↟╃,鏡頭與樣品表面變為軟接觸↟╃,並觸發緊急停止開關↟╃,不再響應向下位移的指令↟╃,避免鏡頭和樣品的損傷↟╃,雙重防護↟╃,守護裝置和產品↟╃,也守護每一分價值和信任✘│。


應用領域

60012063.jpg


中圖儀器研發生產的SuperView W1國產白光干涉儀讓輪廓測量價格更為實惠↟╃,解析度0.1μm↟╃,重複性0.1%↟╃,應用領域廣泛↟╃,操作簡便↟╃,可自動聚焦測量工件獲取2D↟╃,3D表面粗糙度↟│₪✘◕、輪廓等一百餘項引數✘│。適用於各種產品↟│₪✘◕、部件和材料表面的平面度↟│₪✘◕、粗糙度↟│₪✘◕、孔隙間隙↟│₪✘◕、彎曲變形情況↟│₪✘◕、腐蝕情況↟│₪✘◕、表面缺陷↟│₪✘◕、臺階高度↟│₪✘◕、波紋度↟│₪✘◕、磨損情況↟│₪✘◕、面形輪廓↟│₪✘◕、加工情況等表面形貌特徵進行測量和分析✘│。


深圳市中圖儀器股份有限公司是高新技術企業↟╃,致力於精密測量↟│₪✘◕、計量檢測等儀器裝置的研發↟│₪✘◕、生產和銷售✘│。經過十多年在幾何量測量領域的潛心研究↟╃,設計製造了Super View系列白光干涉儀↟│₪✘◕、GT系列鐳射跟蹤儀↟│₪✘◕、SJ6000系列鐳射干涉儀↟│₪✘◕、SJ5100系列高精度測長機↟│₪✘◕、SJ5700系列輪廓測量儀↟│₪✘◕、SJ5200系列螺紋綜合測量機↟│₪✘◕、SJ2000系列指示表自動檢定儀等眾多測量↟│₪✘◕、計量裝置✘│。從奈米級的微觀形貌檢測到百米級的大尺寸高精度測量↟╃,為使用者提供專業的精密測量解決方案✘│。


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